首页
项目
动态
仪器
询价
2019-11-08 - 特性图像空间分辨率高背面观测(λ=1.3 μm)可观测高掺杂基底(Epi-sub)使用红外激光(λ=1.3 μm)意味着在半导体视场内不会产生OBIC信号,因此可探测到缺陷引
https://www.kzs360.com/yanjiusuoyiqi/16543.html - 研究所仪器
中析研究所提供指标检测,成分分析,MSDS报告编写,实验代做,投标竞标检测服务,未知物分析鉴定等各种科研项目。我要了解>>
其他搜索: 药典| 铅酸电池检测| 氢氧化钙| 电石渣| 插入损耗| 防尘| 三氯乙烯| 石材| 代谢产物| 蜂胶| 粘接强度| 小麦| 生物多样性| 青蒿素| 电压| 抗菌材料| 合金| 条码| 瓷砖胶| 呼吸|
了解我们: 关于我们>> 联系我们>> 检测流程>> 荣誉资质>>
☎ 400-635-0567
投诉电话:010-82491398
企业邮箱:010@yjsyi.com
地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
材料实验室
塑料,橡胶,高分子
配方实验室
成分,含量,逆向
食品实验室
营养成分,标签
煤矿实验室
煤炭,矿石,贵金属
石化实验室
石油,化工,添加剂
环境实验室
土壤,水质,废气
药品实验室
中药,西药,未知物
MSDS报告
中文版,英文版