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GB/T 24846-20181000kV交流电设备预防性试验规程

GB/T 24846-20181000kV交流电<font color='red'>气</font>设备预防性试验规程

2019-12-10  -   标准号:GB/T 24846-2018 中文标准名称:1000kV交流电设备预防性试验规程 英文标准名称:Preventive test standards of 1000kV AC

GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.11-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法 英文标准名称:Semicond

GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和候试验方法 第12部分:扫频振动

GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第12部分:扫频振动

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.12-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第12部分:扫频振动 英文标准名称:Semiconductor devices

GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和候试验方法 第13部分:盐雾

GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第13部分:盐雾

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.13-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第13部分:盐雾 英文标准名称:Semiconductor devices—Me

GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)

GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.14-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性) 英文标准名称:Semicondu

GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热

GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.15-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热 英文标准名称:Semicon

GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和候试验方法 第17部分:中子辐照

GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第17部分:中子辐照

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.17-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第17部分:中子辐照 英文标准名称:Semiconductor devices

GB/T 4937.18-2018半导体器件 机械和候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)

GB/T 4937.18-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.18-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量) 英文标准名称:Semiconductor

GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和候试验方法 第19部分:芯片剪切强度

GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第19部分:芯片剪切强度

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.19-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第19部分:芯片剪切强度 英文标准名称:Semiconductor dev

GB/T 4937.201-2018半导体器件 机械和候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

GB/T 4937.201-2018半导体器件 机械和<font color='red'>气</font>候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

2019-12-10  -   标准号:GB/T 4937.201-2018 采 中文标准名称:半导体器件 机械和候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

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